AGS1969VTSI Gold on 230-330µm silicon substrate. Particles 3-50nm
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
AGS1969VTSI Gold on 230-330µm silicon substrate. Particles 3-50nm
AGS1969VTSI Gold on 230-330µm silicon substrate. Particles 3-50nm
Tato řada vzorků typu zlaté nebo cínové částice na uhlíkovém nebo křemíkovém substrátu byla vyvinuta pro použití v souvislosti s kalibracemi síly čáry v polovodičovém průmyslu, kde by běžná výška kalibračního vzorku způsobovala problémy. Parametry vlastních vzorků jsou shodné s těmi běžnými standardy odpovídajícího typu, ale jsou připraveny na velmi tenkém uhlíkovém substrátu o síle cca 130 um a rozměrech 7 x 7 mm.
Pro aplikace, kde uhlík není vhodným základním substrátem, se používá jako nosný materiál křemík. Dostupné jsou varianty o tloušťce 500 um a rozměrech 5 x 5 mm, nebo o tloušťce 230 až 330um a rozměrech 7 x 7 mm.
Tento typ vzorku má velikost částic 3 až 50 nm. Je zvláště vhodný pro testování kvality obrazu na vysokorozlišovacích mikroskopech SEM, jako jsou například typy FEG. K zřetelnému rozlišení jednotlivých částic je třeba zvětšení alespoň 80 000x.