Kategorie produktů

Main menu

Pro test rozlišení (Resolution test specimens)

Nejprodávanějí v kategorii

S1969T High resolution Au-C test specimen on thin carbon disc ᴓ 6mm, t=0,5mm

10 503 CZK

S1937E Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, ᴓ 12,5mm JEOL stub

13 545 CZK

S1988T Low kV Sn-C test specimen on thin (0,5mm) carbon disc ᴓ 6mm

12 236 CZK

S1967D Tin on Carbon Test Specimen, Tin spheres dia.10-100 nm on C substrate on ᴓ12,5mm pin-stub, l=6mm

12 995 CZK

EM-Tec Sn on C resolution standard 7, 10nm-100nm, mounted on JEOL stub d=12.2mm

8 673 CZK
Filtrovat podle:
Řadit podle:

Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1988A Low kV Sn-C test specimen on 10mm JEOL stub

12 236 CZK
bez DPH 10 112 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

EM-Tec Au on C resolution standard 2, 30-300nm, mounted on Ø12.7mm Zeiss pin stub

7 560 CZK
bez DPH 6 248 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1988B Low kV Sn-C test specimen on 15mm Topcon/ISI/ABT stub

12 236 CZK
bez DPH 10 112 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

EM-Tec Au on C resolution standard 2, 30-300nm, mounted on Ø12.2mm JEOL stub

7 560 CZK
bez DPH 6 248 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1988C Low kV Sn-C test specimen on 15mm HITACHI stub

12 236 CZK
bez DPH 10 112 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

EM-Tec Au on C resolution standard 2, 30-300nm, mounted on Ø15mm Hitachi stub

7 560 CZK
bez DPH 6 248 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1988D Low kV Sn-C test specimen on 12,5mm pin-stub, l=6mm

12 236 CZK
bez DPH 10 112 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat
Novinka

EM-Tec RXS-2WSi resolution and contrast test standard, fused W/Si on pin stub

11 229 CZK
bez DPH 9 280 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1988T Low kV Sn-C test specimen on thin (0,5mm) carbon disc ᴓ 6mm

12 236 CZK
bez DPH 10 112 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat
Novinka

EM-Tec RXS-TaSi resolution contrast test standard, fused Ta/Si on pin stub

11 229 CZK
bez DPH 9 280 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1988U Low kV Sn-C test specimen on carbon disc t=2mm, d=6mm

12 236 CZK
bez DPH 10 112 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat
Novinka

EM-Tec B100 Faraday cup for beam current measurements

3 485 CZK
bez DPH 2 880 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1937 Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, ᴓ 12,5mm pin-stub, l = 8mm

13 545 CZK
bez DPH 11 194 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1937E Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, ᴓ 12,5mm JEOL stub

13 545 CZK
bez DPH 11 194 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1937A Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, ᴓ 10mm JEOL stub

13 032 CZK
bez DPH 10 770 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1937B Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, ᴓ15mm Topcon/ISI/ABT stub

13 545 CZK
bez DPH 11 194 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1937C Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, ᴓ15mm HITACHI stub

13 545 CZK
bez DPH 11 194 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1937D Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, ᴓ12,5mm pin-stub, l = 6mm

13 395 CZK
bez DPH 11 070 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1937T Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, thin (0,5mm) carbon disc ᴓ 6mm

13 545 CZK
bez DPH 11 194 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1937U Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, thick (2mm) carbon disc ᴓ 6mm

13 288 CZK
bez DPH 10 982 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

AGS168ZVTSI Gold on 230-330µm silicon substrate. Particles 30-300nm

6 109 CZK
bez DPH 5 049 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

AGS168VTSI Gold on 230-330µm silicon substrate. Particles 5-150nm

5 748 CZK
bez DPH 4 750 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S168SI Resolution Au-Si test specimen, silicon substrate 500um

8 410 CZK
bez DPH 6 950 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1969T High resolution Au-C test specimen on thin carbon disc ᴓ 6mm, t=0,5mm

10 503 CZK
bez DPH 8 680 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

AGS1969VTSI Gold on 230-330µm silicon substrate. Particles 3-50nm

7 460 CZK
bez DPH 6 165 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

AGS1937 Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, ᴓ 12,5mm pin-stub, l = 8mm

8 869 CZK
bez DPH 7 330 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

AGS1969SI Gold on 500µm silicon substrate. Particles 3-50nm

7 388 CZK
bez DPH 6 106 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

AGS1987VTSI Gold on 230-330µm silicon substrate. Particles 2-30nm

14 786 CZK
bez DPH 12 220 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1987SI Gold on 500µm silicon substrate. Particles 2-30nm

23 656 CZK
bez DPH 19 550 CZK
Oblíbené Porovnat Pohlídat

S1995A Critical Dimension calibration specimen, 10-5-2-1-0,5um, non-certified

4 119 CZK
bez DPH 3 404 CZK
0 0,- CZK
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Created by Roman Kunert and his team | Powered by PublicMC | Supported by Akademie AI & MediaMC | © 2005 - 2024