S1937U Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, thick (2mm) carbon disc ᴓ 6mm
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
S1937U Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, thick (2mm) carbon disc ᴓ 6mm
S1937U Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, thick (2mm) carbon disc ᴓ 6mm
Tento vzorek se vyznačuje velkým rozptylem velikostí cínových částic, rozsah jejich velikostí je mezi 5 nm až 30 um a jsou uloženy na uhlíkovém podkladu. Největší částice lze použít k základnímu seřízení optické osy v režimu LM; středně veliké částice lze použít pro monitorování posunu obrazu při změně pracovních parametrů, nebo k testování rozlišení při nízkých urychlovacích napětích. Nejmenší kulové částice mohou být využity pro testování rozlišení na velmi vysokých zvětšeních a pro korekci astigmatismu.
Vzorek se dodává na uhlíkovém terči o průměru 6mm a tloušťce 2mm.