EM-Tec EDX-Checker S-7 with Hitachi M4 adaotred for standard aluminium pin stub

EDX-Checker byl vyvinut jako laciný nástroj pro snadnou kontrolu kalibrace, funkčnosti a rozlišení EDX systémů na SEM. Jeho pravidelné používání zajistí optimální činnost EDX detektoru. EDX-Checker se skládá ze standardního hliníkového nosiče pin-stub, který je osazen Ni-TEM síťkou a referenčními materiály: C, PTFE, Mn, Co, AISI 316L steel, a Al/Cu zalitých do epoxy vhodného do vakua. Osazený hliníkový nosič pin-stub je vyleštěný na hrubost povrchu 0,5 µm a pouhlíkovaný.

Materiál B/N není pouhlíkovaný.

Vlastnosti:

• Rychlá a snadná kalibrace a funkční kontrola
• Ideální pro EDX systémy od výrobců EDAX, Thermo, Bruker, Oxford Instruments, IXRF, Phenom a JEOL
• Leštěný povrch – žádné artefakty způsobené topografií referenčních materiálů
• Dostupný ve dvou variantách
• Známý a stálý výstupní úhel (leštěný povrch)
• Hexagonální bílý BN nepotřebuje vodivý povlak uhlíku
• Kalibrace obrazu v režimu LowMag a X-ray mapování
• Je kompaktní a laciný
• Je dostupný na nosiči pin-stub a adaptéry pro mikroskopy výrobců JEOL a Hitachi

Varianty:

• EDX-Checker S8 s C, PTFE, Mn, Co a Al/Cu jako referenčními materiály, AISI 316L pro kontrolu kvantitativních analýz a Ni-síťkami s hustotami 400 a 1000 mesh pro rychlou kontrolu a kalibraci zvětšení a X-ray mapování. Ideální pro SEm a stolní mikroskopy SEM se systémy EDS.
• EDX-Checker LE-10 s B/N, C, PTFE, Mn, Co a Al/Cu jako referenčními materiály, AISI 316L pro kontrolu kvantitativních analýz a Ni-síťkou 400 mesk pro rychlou kalibraci zvětšení a kontrolu X-ray mapování. Tato varianta je optimalizována pro kontrolu analýz lehkých prvků.
• EDX-Checker S7 s C, PTFE, Mn, Co a Al/Cu jako referenčními materiály a Ni-síťkami s hustotami 400 a 1000 mesh pro rychlou kontrolu a kalibraci zvětšení a X-ray mapování. Ideální pro stolní mikroskopy SEM se systémy EDS.

TECHNICKÉ PARAMETRY