S1937 Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, ᴓ 12,5mm pin-stub, l = 8mm
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
S1937 Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, ᴓ 12,5mm pin-stub, l = 8mm
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
S1937 Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, ᴓ 12,5mm pin-stub, l = 8mm
S1937 Universal test specimen Sn particles 5 nm - 30µm on C, ᴓ 12,5mm pin-stub, l = 8mm
Tento vzorek se vyznačuje velkým rozptylem velikostí cínových částic, rozsah jejich velikostí je mezi 5 nm až 30 um a jsou uloženy na uhlíkovém podkladu. Největší částice lze použít k základnímu seřízení optické osy v režimu LM; středně veliké částice lze použít pro monitorování posunu obrazu při změně pracovních parametrů, nebo k testování rozlišení při nízkých urychlovacích napětích. Nejmenší kulové částice mohou být využity pro testování rozlišení na velmi vysokých zvětšeních a pro korekci astigmatismu.
Růžena Hanžlová
Čechova 448/8, Písek, 397 01
e-mail: obchod.elmi@centrum.cz
telefon/ záznamník: 382 272 210
IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846
Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.
V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.
Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.