AGS1987E Ultra high resolution Au-C test specimen on ᴓ12,5 mm JEOL stub
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
AGS1987E Ultra high resolution Au-C test specimen on ᴓ12,5 mm JEOL stub
AGS1987E Ultra high resolution Au-C test specimen on ᴓ12,5 mm JEOL stub
Tento typ vzorku má velikost částic 2 až 30 nm. Je zvláště vhodný pro testování kvality obrazu na vysokorozlišovacích mikroskopech SEM, jako jsou například typy FEG. K zřetelnému rozlišení jednotlivých částic je třeba zvětšení alespoň 80 000x.