S1987D Ultra high resolution Au-C test specimen on Zeiss pin stub
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
S1987D Ultra high resolution Au-C test specimen on Zeiss pin stub
S1987D Ultra high resolution Au-C test specimen on Zeiss pin stub
Tento typ vzorku má velikost částic 2 až 30 nm. Je zvláště vhodný pro testování kvality obrazu na vysokorozlišovacích mikroskopech SEM, jako jsou například typy FEG. K zřetelnému rozlišení jednotlivých částic je třeba zvětšení alespoň 80 000x.