S1969E High resolution Au-C test specimen on ᴓ12,5mm JEOL stub
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
S1969E High resolution Au-C test specimen on ᴓ12,5mm JEOL stub
S1969E High resolution Au-C test specimen on ᴓ12,5mm JEOL stub
Tento typ vzorku má velikost částic 3 až 50 nm. Je zvláště vhodný pro testování kvality obrazu na vysokorozlišovacích mikroskopech SEM, jako jsou například typy FEG. Ke zřetelnému rozlišení jednotlivých částic je třeba zvětšení alespoň 80 000x.