EM-Tec RXS-TaSi resolution contrast test standard, fused Ta/Si on pin stub
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
EM-Tec RXS-TaSi resolution contrast test standard, fused Ta/Si on pin stub
EM-Tec RXS-TaSi resolution and contrast test standard obsahuje taveninu Ta a Si. Vše je umístěno na pin-stub nosiči ᴓ12,7mm.
Vzorek je určen pro:
- testování rozlišení Z-kontrastu a porovnání X-ray versus Z-kontrast
- slouží také k optimalizaci parametrů systémů SEM/EDS a SEM/WDS
Referenční materiály: Tavenina Ta/Si