EM-Tec RXS-2WSi resolution and contrast test standard, fused W/Si on pin stub
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
EM-Tec RXS-2WSi resolution and contrast test standard, fused W/Si on pin stub
EM-Tec RXS-2WSi resolution and contrast test standard obsahuje taveninu W a Si. Vše je umístěno na pin-stub nosiči ᴓ12,7mm.
Vzorek je určen pro:
- testování rozlišení Z-kontrastu a porovnání X-ray versus Z-kontrast
- slouží také k optimalizaci parametrů systémů SEM/EDS a SEM/WDS
Referenční materiály: Tavenina W/Si