S168ZSI Low kV Au-Si test specimen on 500 um silicon substrate
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
S168ZSI Low kV Au-Si test specimen on 500 um silicon substrate
S168ZSI Low kV Au-Si test specimen on 500 um silicon substrate
Tato řada vzorků typu zlaté nebo cínové částice na uhlíkovém nebo křemíkovém substrátu byla vyvinuta pro použití v souvislosti s kalibracemi síly čáry v polovodičovém průmyslu, kde by běžná výška kalibračního vzorku způsobovala problémy. Parametry vlastních vzorků jsou shodné s těmi běžnými standardy odpovídajícího typu, ale jsou připraveny na velmi tenkém uhlíkovém substrátu o síle cca 130 um a rozměrech 7 x 7 mm.
Pro aplikace, kde uhlík není vhodným základním substrátem, se používá jako nosný materiál křemík. Dostupné jsou varianty o tloušťce 500 um a rozměrech 5 x 5 mm, nebo o tloušťce 200um a rozměrech 7 x 7 mm.
Velikost zlatých částic u tohoto provedení je 30 až 300 nm.