S168UZ Low kV Au-C test specimen, unmounted
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
S168UZ Low kV Au-C test specimen, unmounted
S168UZ Low kV Au-C test specimen, unmounted
Standardní vzorky pro testy rozlišení nemusejí vyhovovat pro nízká urychlovací napětí. Může to být z důvodů nedostatečného rozlišení při nízkých urychlovacích napětích, nebo horšího poměru signál/šum. Větší částice zlata dávají větší kontrast a zároveň zachovávají malé mezery pro měření rozlišení. Tím se tento typ vzorku stává snadněji použitelným při neoptimálních či zhoršených pozorovacích podmínkách. Velikost částic je 30 až 300 nm.
Vzorek je na uhlíkovém terči o půměru 6mm a tloušťce 2mm.