Micro-Tec MTC-5F Multiple target calibration standard with 4 patterns, mounted on 25,4mm pin stub
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
Micro-Tec MTC-5F Multiple target calibration standard with 4 patterns, mounted on 25,4mm pin stub
Micro-Tec MTC5F Multiple target calibration standard with 4 patterns, je tvořen přesně nanesenými čarami z chromu. Podkladem je vodivý ultra hladký křemíkový substrát. MTC-5F je navržen pro kalibraci optických mikroskopů, stereo mikroskopů, optických systémů pro kontrolu kvality a elektronových mikroskopů SEM v režimu LM (low mag). Tento vzorek obsahuje 4 testovací obrazce:
- Soustředné kruhy s průměry 5um až 5mm
- Čtverce s rozměry 5x5um až 5x5mm
- Šestiúhelníky s rozměry od 5um až do 5mm
- X,Y stupnici 5 x 5mm s dělením 0,002mm.
Tyto čtyři vzory z naneseného chromu jsou ve stejné fokusační rovině a v porovnání s leptanými vzorky produkují silnější signál. Každý exemplář má vyleptané unikátní seriové číslo a má kalibrační certifikát NIST.
Základní technické údaje:
| Substrate | 525µm thick boron doped ultra-flat wafer with <100> orientation |
| Conductive | Excellent; 5-10 Ohm resistivity |
| Patterns | Circles, squares, hexagons, cross scale |
| Pattern size | 5 x 5mm (4x) 75nm thick, pure bright Chromium lines (center to center) |
| Lines | 5µm wide lines, spaced 125 and 150µm apart 10µm wide lines spaced 200, 250, 300, 350, 400, 500, 600, 700, 800 and 900µm apart 20µm wide lines spaced 1.0, 1.5, 2, 2.5, 3, 3.5, 4, 4.5 and 5mm apart |
| Cross scale | 5mm wide lines, 5 x 5mm with 0.002mm divisions |
| Die size | 12 x 12mm |
| Application | Reflective light, scanning electron microscopy, optical imaging systems |
| Identification | Product ID with serial number etched |
Tento kalibrační standard se dodává na nosiči pin-stub ø25,4mm.
Dodává se v Gel-Pack boxu.