Low profile Zeiss pin stub, dia.12,7mm, 1mm hight, Al, 5ks/bal
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
Nosič vzorků Zeiss Low profile horizontal je určen pro FIB/SEM aplikace. Umožňuje, aby byl vzorek umístěn co nejblíže pólovému nástavci a pracovalo se tak s co nejkratší pracovní vzdáleností. Používá se pro Zeiss FIB systems. Pracuje se s náklonem 0°.