Low profile Zeiss pin stub, dia.12,7mm, 1mm hight, 50ks/bal, short pin
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
Nosič vzorků EM-Tec Low profile horizontal je určen pro FIB/SEM aplikace. Umožňuje, aby byl vzorek umístěn co nejblíže pólovému nástavci a pracovalo se tak s co nejkratší pracovní vzdáleností. Používá se pro Zeiss FIB/SEM system. Pracuje se s náklonem 0°.