EM-Tec Low profile double pre-tilt (55°/35°) SEM pin stub, dia.12,7mm, for Tescan FIBxSEM, Al
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
EM-Tec Low profile double pre-tilt (55°/35°) SEM pin stub, dia.12,7mm, for Tescan FIBxSEM, Al
EM-Tec Low profile double pre-tilt (55°/35°) SEM pin stub, dia.12,7mm, for Tescan FIBxSEM, Al
Nosič vzorků EM-Tec Low profile je určen pro FIB/SEM aplikace. Umožňuje, aby byl vzorek umístěn co nejblíže pólovému nástavci a pracovalo se tak s co nejkratší pracovní vzdáleností.