Kategorie produktů

Main menu

TipCheck AFM tip test sample on 12mm AFM disc

9 467 CZK / ks
bez DPH 7 824 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na objednávku - 3 týdny

Značka: Micro to Nano1

Záruka: 24

Kód produktu: 34-020001

TipCheck AFM tip test sample on 12mm AFM disc 

TipCheck AFM tip test sample on 12mm AFM disc  

Můžete snadno zkontrolovat, zda je hrot AFM stále dobrý, začíná vykazovat opotřebení nebo je tupý nebo zlomený, aniž byste museli skenovat celý obrázek nebo provádět kontrolu hrotu SEM. Vzorek TipCheck navíc dobře funguje se softwarem Auto Tip Qualification a Tip Characterization, který je v současné době dostupný na trhu.

Vzorek TipCheck se skládá z extrémně odolného tenkého filmového povlaku naneseného na silikonovém čipu. Tenký film ukazuje granulární nanostrukturu s ostrými vrcholy, která je ideální pro reverzní zobrazování vrcholu hrotu AFM sondy. Velikost raznice TipCheck je 5x5 mm

TECHNICKÉ PARAMETRY

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.

Ověřovací kód
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Created by Roman Kunert and his team | Powered by PublicMC | Supported by Akademie AI & MediaMC | © 2005 - 2024