S2008 PLANOTEC Si test specimen, 5um grid (x/y), mounted on JEOL stub (10mm x 10mm)
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
S2008 PLANOTEC Si test specimen, 5um grid (x/y), mounted on JEOL stub (10mm x 10mm)
S2008 PLANOTEC Si test specimen, 5um grid (x/y), mounted on JEOL stub (10mm x 10mm)
Tento vzorek je vyroben z monokrystalu křemíku, celkové rozměry jsou 5x5 mm. Na povrchu jsou elektronovým svazkem vyznačeny jasně viditelné čtverce s periodicitou 5 um +/-0,05 µm (obraz (b), tzn. hrana okna má délku 4µm. Dělící linie mají tloušťku cca 1 µm a jsou vyrobeny elektronovou litografií. Jejich hloubka je cca 250 nm. Každý testovací vzorek má unikátní seriové číslo. Širší čára je umístěna každých 500 um, což lze využít i ve světelné mikroskopii. Tento vzorek je výborný pro porovnávání zvětšení a zjišťování jakéhokoli zkreslení obrazu.
Ke každému testovacímu vzorku lze za poplatek cca. 77000,- CZK objednat také kalibrační protokol vystavený ústavem: Physikalisch Technischen Bundesanstalt PTB