Kategorie produktů

Main menu

S1933F Planotec silicon test specimen 5x5mm, on 12,5mm pin-stub G301F (6mm pin length)

2 088 CZK / ks
bez DPH 1 726 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na objednávku - 4 týdny

Značka: Plano3

Záruka: 24

Kód produktu: S1933F

S1933F Planotec silicon test specimen 5x5mm, on 12,5mm pin-stub G301F (6mm pin length)

Tento vzorek je vyroben z monokrystalu křemíku, celkové rozměry jsou 5x5 mm, tloušťka je 0,5 mm. Na povrchu jsou vyznačeny jasně viditelné čtverce s periodicitou 10 um. Dělící čáry mají tloušťku cca 1,9 um a jsou vyrobeny elektronovou litografií. Širší čára je umístěna každých 500 um. Tento vzorek je výborný pro porovnávání zvětšení a zjišťování jakéhokoli zkreslení obrazu. 

TECHNICKÉ PARAMETRY

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.

Ověřovací kód
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Created by Roman Kunert and his team | Powered by PublicMC | Supported by Akademie AI & MediaMC | © 2005 - 2024