EM-Tec 30 nm silicon nitride membrane, 0,1 x 0,25 mm window, 100 µm frame, 25 ks/bal
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
EM-Tec 30 nm silicon nitride membrane, 0,1 x 0,25 mm window, 100 µm frame, 25 ks/bal
EM-Tec silicon nitride membrane jsou filmy nejnovější generace z nitridu křemíku. Jsou to napěťově optimalizované filmy bez defektů. Jako nosič slouží nově vyvinutý robustní hexagonální křemíkový rámeček s referenční značkou na obvodu. Více o rámečku naleznete na: //www.elektronovamikroskopie.eu/katalog/251/kremikove-ramecky-silicone-aperture-frames/. Vlastnosti nitridu křemíku umožňují produkci TEM podpůrného filmu, který je pevný, chemicky odolný, neobsahuje uhlík a vyznačuje se i malým příspěvkem k signálu pozadí. Tím se stává ideálním pro aplikace jako jsou zobrazování nanočástic, kvantitativní analýza uhlíku, chemické experimentování na podložním filmu, pozorování chemických reakcí a růstu krystalů v reálném čase, výzkum tenkých vrstev, pozorování růstu buněk na podložním filmu a pro řadu dalších výzkumných technik v mikroskopii.
EM-Tec silicon nitride membrane se dodává na nosném křemíkovém rámečku o rozměrech shodných s klasickou síťkou. Velikost okna je 0,1 x 0,25 mm, síla membrány je 30nm, síla podložního substrátu je 100 um. Rámečky jsou uloženy do trezorku, dodávka obsahuje 25 ks rámečků s membránou.