Kategorie produktů

Main menu

S1967A Tin on Carbon Test Specimen, Tin spheres dia.10-100 nm on C substrate, ᴓ10mm JEOL stub

6 619 CZK / ks
bez DPH 5 470 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na objednávku 8 týdnů

Značka: AGAR3

Záruka: 24

Kód produktu: S1967A

S1967A Tin on Carbon Test Specimen, Tin spheres dia.10-100 nm on C substrate, ᴓ10mm JEOL stub

S1967A Tin on Carbon Test Specimen, Tin spheres dia.10-100 nm on C substrate, ᴓ10mm JEOL stub

Jedná se o alternativní typ vzorku pro ověření středního rozsahu zvětšení při každodenní kontrole funkce. Vzorek je tvořen disperzí cínových částic, rozsah jejich velikostí je mezi 10 až 100 nm a jsou uloženy na uhlíkovém podkladu. Použití tohoto vzorku je vhodné i pro korekci astigmatismu.    

TECHNICKÉ PARAMETRY

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.

Ověřovací kód
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Created by Roman Kunert and his team | Powered by PublicMC | Supported by Akademie AI & MediaMC | © 2005 - 2024