AGS1987 Ultra high resolution Au-C test specimen on 12,5mm pin-stub, trn l=8mm
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
AGS1987 Ultra high resolution Au-C test specimen on 12,5mm pin-stub, trn l=8mm
AGS1987 Ultra high resolution Au-C test specimen on 12,5mm pin-stub, trn l=8mm
Tento typ vzorku má velikost částic 2 až 30 nm. Je zvláště vhodný pro testování kvality obrazu na vysokorozlišovacích mikroskopech SEM, jako jsou například typy FEG. Ke zřetelnému rozlišení jednotlivých částic je třeba zvětšení alespoň 80 000x.