S168DZ Low kV Au-C test specimen on 12,5mm pin-stub, l=6mm
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
S168DZ Low kV Au-C test specimen on 12,5mm pin-stub, l=6mm
S168DZ Low kV Au-C test specimen on 12,5mm pin-stub, l=6mm
Standardní vzorky pro testy rozlišení nemusejí vyhovovat pro nízká urychlovací napětí. Může to být z důvodů nedostatečného rozlišení při nízkých urychlovacích napětích, nebo horšího poměru signál/šum. Větší částice zlata dávají větší kontrast a zároveň zachovávají malé mezery pro měření rozlišení. Tím se tento typ vzorku stává snadněji použitelným při neoptimálních či zhoršených pozorovacích podmínkách. Velikost částic je 30 až 300 nm.