Kategorie produktů

Main menu

EM-Tec R1-40 top reference holder for 1 x ᴓ40mm/1- 1/2 inch metallographic mounts, Ø14mm JEOL stub, 1ks

6 564 CZK / ks
bez DPH 5 425 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na objednávku - 3 týdny

Značka: Micro to Nano1

Záruka: 24

Kód produktu: 12-006268

EM-Tec R1-40 top reference holder for 1 x ᴓ40mm/1- 1/2 inch metallographic mounts, Ø14mm JEOL stub, 1ks

EM-Tec top reference holders for Ø40mm and Ø1-1/2” mounts je určen pro upínání metalografických, petrografických i keramografických nábrusů a zalitých vzorků. Pro standardní 40mm a 1-1/2” držáky jsou k dispozici referenční držáky pro 1,2 nebo 4 nosiče. Držáky pro 2 a 4 držáky lze použít i bez základní části, pokud je výška limitujícím faktorem v SEM. Top referenční držáky se základní částí obsahují stavěcí šrouby v základně, které přitlačují horní povrch držáku naplocho proti referenčním břitům. Pokud se použijí metalografické držáky se sníženou výškou nebo tenké vzorky, lze použít distanční kotouče Ø32 mm, které zajistí, že držáky budou přitlačeny k referenčním břitům. Zatlačení ze základny umožňuje malé nastavení úhlu, pokud leštěné povrchy vzorků nejsou dokonale kolmé ke stranám. Top referenční držáky EM-Tec R2 a R2-1.5 obsahují dvě pozice pro kalibrační standardy namontované na standardním 12,7 mm nosiči s pinem.

Celkový rozměr držáku EM-Tec R1-40 top reference holder  je 46x55x26mm. Maximální výška vzorku je 20mm

Imbusový klíč je součástí dodávky.

Tyto držáky jsou vhodné pro elektronové mikroskopy JEOL, které užívají upevnění vzorku JEOL stub Ø14mm.

TECHNICKÉ PARAMETRY

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.

Ověřovací kód
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Created by Roman Kunert and his team | Powered by PublicMC | Supported by Akademie AI & MediaMC | © 2005 - 2024