Kategorie produktů

Main menu

EM-Tec G4.0 geological thin section holder for 4 petrographic slides up to 28x48mm, pin, 1 ks/bal

10 410 CZK / ks
bez DPH 8 603 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na dotaz

Značka: Micro to Nano1

Záruka: 24

Kód produktu: 12-002264

EM-Tec G4.0 geological thin section holder for 4 petrographic slides up to 28x48mm, pin, 1 ks/bal

EM-Tec G4.0 geological thin section holder for 4 petrographic slides up to 28x48mm, pin

je vhodný pro následující typy elektronových mikroskopů: FEI, Philips, Tescan, RJLee, AmRay, Cambridge Instriments, Leica, CamScan, Aspex, ETEC a Novascan.

Vzorek je držen v pozici pomocí 12 x S-Clip. Standard pin ø 3,2mm.

Celkové rozměry (bez trnu, pokud je součástí): 104 x 60 x 12mm.

TECHNICKÉ PARAMETRY

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.

Ověřovací kód
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Created by Roman Kunert and his team | Powered by PublicMC | Supported by Akademie AI & MediaMC | © 2005 - 2024