Kategorie produktů

Main menu

Ultra-high purity carbon rods ᴓ3,05 x 305mm, Grade F-S 10 ks/bal

2 407 CZK / ks
bez DPH 1 989 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na objednávku - 3 týdny

Značka: Micro to Nano1

Záruka: 24

Kód produktu: 70-CC0303

Ultra-high purity carbon rods ᴓ3,05 x 305mm, Grade F-S 10 ks/bal

Ultra-high purity carbon rods se používají k nanášení uhlíkové vrstvy v elektronové mikroskopii, např. na TEM síťky, nebo při zvodivění povrchu vzorků, které budou analyzovány v SEM. Tyto uhlíkové tyčky mají ve skutečnostu strukturu vysoce čistého grafitu. Ten se vytvoří během procesu čištění tyček. Maximální úroveň nečistot je celkově max. 2 ppm při současném splnění podmínky, že žádná z příměsí nemá obsah vyšší než 1 ppm (Viz tabulka "Typické analytické výsledky...."). Povolená hodnota obsahu nečistot je 1 ppm nebo méně. Proto jsou ideálním materiálem pro použití v SEM/EDS, EBSD, WDS nebo EMPA aplikacích.

Typické analytické výsledky při zjišťování čistoty v ppm pro uhlíkové tyčky:

Element

Grade F-S Ø3.05mm

Grade F-S Ø6.15mm

Grade F-A Ø6.15mm

B

0.026

N/D

0.043

Mg

0.031

0.045

0.020

Al

0.189

0.029

0.819

Si

0.464

N/D

0.081

Ca

0.203

0.404

0.109

Ti

0.011

0.004

0.005

V

0.016

N/D

0.010

Cr

0.018

N/D

N/D

Mn

N/D

N/D

N/D

Fe

0.275

0.034

0.063

Ni

0.093

0.008

0.058

Cu

0.012

0.015

N/D

Zn

0.016

0.113

0.005

Zr

N/D

0.001

N/D

Mo

0.038

0.009

0.036

Ag

N/D

N/D

N/D

Sn

0.131

N/D

N/D

W

N/D

N/D

N/D

Pb

N/D

0.021

N/D

Měření nečistot se provádí na statistickém vzorku každé výrobní šarže. K měření je použita metoda EVT-ICP (Electro Thermal Evaporation - Inductively Coupled Plasma).

Specifikace fyzikálních vlastností jednotlivých stupňů čistoty uhlíkových tyček.

Parameter

Grade F-S

Grade F-A

Density (g/cm3)

1.80

1.61

Electrical resistivity (µOhm.cm)

939.7

635

Hardness (shore)

42

32

Porosity (%)

16.5

28.5

Tensile strength (MPa)

41.4

22.1

Flexural strength (MPa)

51.8

24.2

Compressive strength (MPa)

65.6

48.2

Thermal expansion rate (x10-6/K)

2.9

1.9

Purity

Ultra-high

Ultra-high

Impurities (ppm)

Max. 1/element

Max. 1/element

Structure

Graphite

Graphite

Appearance

Hard, brittle

Softer

 

 

TECHNICKÉ PARAMETRY

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.

Ověřovací kód
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Created by Roman Kunert and his team | Powered by PublicMC | Supported by Akademie AI & MediaMC | © 2005 - 2024