Low profile Zeiss pin stub, dia.12,7mm, profil 36° for Zeis SEM/FIB, Al pin l=6mm, 50ks/bal
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
Nosič vzorků Low profile 36° je určen pro FIB/SEM aplikace. Umožňuje, aby byl vzorek umístěn co nejblíže pólovému nástavci a pracovalo se tak s co nejkratší pracovní vzdáleností. Používá se pro Zeiss SEM/FIB systemy.