Pelco ® NiOx Test specimen byl speciálně vyroben pro použití v pokročilých analytický TEM systémech vybavených analyzátory EDX a/nebo EELS. Slouží k charakterizaci funkčnosti přístroje. Vzorek je tvořen 55nm silnou vrstvou NiOx deponované na 25nm silné podložní uhlíkové vrstvě. Ta je na molybdenové TEM síťce 300 mesh.

Vzorek generuje Mo signál, který slouží pro měření rozptýleného (parazitního) X-ray záření a elektronů ve sloupci TEM. NiOx film obsahuje známé množství lehkého prvku (kyslíku) a užívá se pro stanovení odezvy EDS detektoru na nízkoenergetické X-ray záření. V systému EELS umožňuje přítomnost kyslíku a niklu provádět kalibraci energetické osy a provádět měření poměru prvků. Je možné provést přímé porovnání výsledků prvkové analýzy z EDS a EELS, pokud je TEM vybaven oběma systémy současně.

Film NiOx je ve formě polykrystalického materiálu s jemným zrnem, je velmi vhodný také pro kalibraci "Camera Length" v režimu difrakce a ke korekci astigmatismu systému mezičoček (IL).

Tento vzorek je také vhodný pro periodické kontroly možného vytváření ledu v EDS systému a kontroly kontaminace detektoru uhlovodíky.

TECHNICKÉ PARAMETRY