S1987SI Gold on 500µm silicon substrate. Particles 2-30nm
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
S1987SI Gold on 500µm silicon substrate. Particles 2-30nm
S1987SI Gold on 500µm silicon substrate. Particles 2-30nm
Tato řada vzorků typu zlaté nebo cínové částice na uhlíkovém nebo křemíkovém substrátu byla vyvinuta pro použití v souvislosti s kalibracemi síly čáry v polovodičovém průmyslu, kde by běžná výška kalibračního vzorku způsobovala problémy. Parametry vlastních vzorků jsou shodné s těmi běžnými standardy odpovídajícího typu, ale jsou připraveny na velmi tenkém uhlíkovém substrátu o síle cca 130 um a rozměrech 7 x 7 mm.
Pro aplikace, kde uhlík není vhodným základním substrátem, se používá jako nosný materiál křemík. Dostupné jsou varianty o tloušťce 500 um a rozměrech 5 x 5 mm, nebo o tloušťce 230 - 330um a rozměrech 7 x 7 mm.
Tento konkrétní typ vzorku má velikost částic 2 až 30 nm. Je zvláště vhodný pro testování kvality obrazu na vysokorozlišovacích mikroskopech SEM, jako jsou například typy FEG. Ke zřetelnému rozlišení jednotlivých částic je třeba zvětšení alespoň 80 000x.